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ED&TC - 最新文献
RAM Testing Algorithm for Detection Linked Coupling Faults
Pub Date : 1996-03-11 DOI: 10.5555/787259.787559 V. G. Mikitjuk, V. Yarmolik, A. V. GoorIddq Testing for High Performance CMOS - The Next Ten Years
Pub Date : 1996-03-11 DOI: 10.5555/787259.787599 T. Williams, R. Kapur, M. R. Mercer, R. Dennard, W. MalyPerturb and Simplify: Optimizing Combinational Circuits with External Don't Cares
Pub Date : 1996-03-11 DOI: 10.5555/787259.787569 Shih-Chieh Chang, M. Marek-Sadowska
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