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2021 IEEE 22nd Latin American Test Symposium (LATS) - 最新文献
Pros and Cons of Fault Injection Approaches for the Reliability Assessment of Deep Neural Networks
Pub Date : 2021-10-27 DOI: 10.1109/LATS53581.2021.9651807 A. Ruospo, Lucas Matana Luza, A. Bosio, Marcello Traiola, L. Dilillo, Ernesto SánchezSET Mitigation Techniques on Mirror Full Adder at 7 nm FinFET Technology
Pub Date : 2021-10-27 DOI: 10.1109/LATS53581.2021.9651889 Rafael N. M. Oliveira, F. A. D. Silva, Ricardo Reis, C. Meinhardt
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