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IEEE/SEMI International Symposium on Semiconductor Manufacturing Science - 最新文献
Integrating voice recognition technology with inspection of integrated circuits
Pub Date : 1990-05-21 DOI: 10.1109/ISMSS.1990.66130 P. Gavaskar, E. Maass, L. Weldy, H. NguyenThe competitive mindset-using total cycle time to cut through the clutter and confusion
Pub Date : 1990-05-21 DOI: 10.1109/ISMSS.1990.66109 P. ThomasManaging manufacturing and engineering in VLSI fabs
Pub Date : 1990-05-21 DOI: 10.1109/ISMSS.1990.66122 M. Flaherty
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