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Proceedings of Technical Papers. International Symposium on VLSI Technology, Systems, and Applications - 最新文献
Hot Carrier Reliability Considerations For High Performance Submicron Mosfet's
Pub Date : 1997-06-03 DOI: 10.1109/VTSA.1997.614921 Ho-Chung Huang, Jiuun-Jer Yang, Talee Yu, K. Young, K. ChiuNoise Suppression In Low Voltage Differential I/O
Pub Date : 1997-06-03 DOI: 10.1109/VTSA.1997.614771 T. Haulin, M. HedbergLow-power High-speed Complementary Gaas Dynamic Logic Circuit Design
Pub Date : 1997-06-03 DOI: 10.1109/VTSA.1997.614910 K. Shehata, D. Fouts
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