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2004 International Symposium on Electromagnetic Compatibility (IEEE Cat. No.04CH37559) - 最新文献
Modeling of power supply noise using efficient macro-model of non-linear driver
Pub Date : 2004-11-01 DOI: 10.1109/ISEMC.2004.1349961 B. Mutnury, M. Swaminathan, J. LibousHigh dielectric constant thin film embedded capacitor for suppression of simultaneous switching noise and radiated emission
Pub Date : 2004-11-01 DOI: 10.1109/ISEMC.2004.1349864 Hyungsoo Kim, Hyunjeong Park, Y. Jeong, Joungho Kim, SeokKyu-lee, JongKuk-Hong, Youngsoo HongFrequency resolved susceptibility testing as a substitute for angular resolved susceptibility testing
Pub Date : 2004-11-01 DOI: 10.1109/ISEMC.2004.1349991 M. Hoijer, V. Isovic
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