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14th Asian Test Symposium (ATS'05) - 最新文献
Leakage Current Based Stabilization Scheme for Robust Sense-Amplifier Design for Yield Enhancement in Nano-scale SRAM
Pub Date : 2005-12-18 DOI: 10.1109/ATS.2005.73 S. Mukhopadhyay, A. Raychowdhury, H. Mahmoodi, K. RoyT2: Statistical Methods for VLSI Test and Burn-in Optimization
Pub Date : 2005-12-18 DOI: 10.1109/ATS.2005.104 A. SinghEfficient Test Architecture based on Boundary Scan for Comprehensive System Test
Pub Date : 2005-12-18 DOI: 10.1109/ATS.2005.54 T. Chakraborty
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