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Proceedings, IEEE AUTOTESTCON - 最新文献
Numeric issues in test software correctness
Pub Date : 2002-12-10 DOI: 10.1109/AUTEST.2002.1047948 R. G. Hayes, Gary, Hughes, Phillip M. DorinConcurrent test systems using the structured distributed-programming paradigm
Pub Date : 2002-12-10 DOI: 10.1109/AUTEST.2002.1047886 R. C. SalleyIntegrated circuit failure detection using IR laser
Pub Date : 2002-12-10 DOI: 10.1109/AUTEST.2002.1047955 E. Keenan, L. Kirkland, R. G. Wright, M. Zgol, D. Adebimpe
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