发布求助

文献互助智能选刊最新文献

Micro and Nano Engineering

查看最新文献

5876

中科院SCI期刊分区 WOS期刊分区历年影响因子历年发表同类期刊

影响因子：

3.1

ISSN：

print: 2590-0072

研究领域：

Engineering-Electrical and Electronic Engineering

Gold OA文章占比：

100.00%

原创研究文献占比：

80.00%

SCI收录类型：

Emerging Sources Citation Index (ESCI) || Scopus (CiteScore) || Directory of Open Access Journals (DOAJ)

期刊官网：

https://www.journals.elsevier.com/micro-and-nano-engineering

CiteScore：

CiteScore	SJR	SNIP	CiteScore排名
3.3	0.489	0.942	学科排名百分位大类：Engineering 小类：Electrical and Electronic Engineering 394 / 797 50% 大类：Physics and Astronomy 小类：Atomic and Molecular Physics, and Optics 117 / 224 47% 大类：Physics and Astronomy 小类：Condensed Matter Physics 229 / 434 47% 大类：Materials Science 小类：Surfaces, Coatings and Films 73 / 132 45% 大类：Materials Science 小类：Electronic, Optical and Magnetic Materials 160 / 284 43%

发文信息

中科院SCI期刊分区

2025年3月20日发布

大类	小类	TOP期刊	综述期刊
3区材料科学	3区工程：电子与电气 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 3区材料科学：综合 MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 4区纳米科技 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 3区光学 OPTICS 3区物理：应用 PHYSICS, APPLIED	否	否

WOS期刊分区

学科分类
Q2ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC Q3MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY Q3NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY Q2OPTICS Q2PHYSICS, APPLIED

历年影响因子

2023年	2.8000
2024年	3.1000

历年发表

2018年	10
2019年	36
2020年	31
2021年	18
2022年	67

投稿信息

出版语言：

English

出版国家(地区)：

Netherlands

接受率：

40%

初审时长：

8 weeks

审稿时长：

80 days

发表时长：

2 weeks

论文处理费：

$1670

出版商：

Elsevier

PubMed链接：

http://www.ncbi.nlm.nih.gov/nlmcatalog?term=2590-0072%5BISSN%5D

Micro and Nano Engineering - 最新文献

Micro-digital light processing of conventional and hollow Gyroid mesoscale hydrogel scaffolds for neural cell cultures

Pub Date : 2025-08-05 DOI: 10.1016/j.mne.2025.100310 P.F.J. van Altena , L. Castillo Ransanz , M. Manco , V.M. Heine , A. Accardo

Stability of masking materials for pattern transfer of lithographic masks into fused silica by atmospheric pressure plasma jet etching

Pub Date : 2025-07-20 DOI: 10.1016/j.mne.2025.100309 Robert Heinke , Lukáš Šilhan , Martin Ehrhardt , Pierre Lorenz , Joachim Zajadacz , Jens Bauer , Thomas Arnold , Mojmír Šerý , Klaus Zimmer

Nanofabrication of sharp conductive diamond tip probe chips and their application in reverse tip sample scanning probe microscopy

Pub Date : 2025-06-28 DOI: 10.1016/j.mne.2025.100307 L. Wouters , J. Cho , S. Gim , J. Yang , A. Kanniainen , K. Lee , P. Lagrain , N. Peric , T. Hantschel

查看全部

免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。