发布求助
文献互助 智能选刊 最新文献

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
查看最新文献 查看最新文献 订阅 订阅 分享分享 浏览量138
发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
同类期刊
ACM Transactions on Quantum Computing
ACM Transactions on Quantum Computing Proposed for presentation at the INMM & ESARDA Joint Annual Meeting (Virtual Meeting) held August 23-26, 2021 in Vinenna, Austria
Proposed for presentation at the INMM & ESARDA Joint Annual Meeting (Virtual Meeting) held August 23-26, 2021 in Vinenna, Austria 2005 International Conference on Collaborative Computing: Networking, Applications and Worksharing
2005 International Conference on Collaborative Computing: Networking, Applications and Worksharing Int. J. Autom. Comput.
Int. J. Autom. Comput.

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults - 最新文献

Introduction to Digital Memory

Pub Date : 2018-07-07 DOI: 10.1007/978-3-319-91204-2_1 I. Mrozek

Basics of Functional RAM Testing

Pub Date : 2018-07-07 DOI: 10.1007/978-3-319-91204-2_2 I. Mrozek

Pseudo-Exhaustive Testing Based on March Tests

Pub Date : 2018-07-07 DOI: 10.1007/978-3-319-91204-2_8 I. Mrozek
查看全部
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
copy
已复制链接
快去分享给好友吧!
我知道了
右上角分享
点击右上角分享
联系我们：info@booksci.cn Book学术提供免费学术资源搜索服务，方便国内外学者检索中英文文献。致力于提供最便捷和优质的服务体验。 Copyright © 2023 布克学术 All rights reserved.
京ICP备2023020795号-1
ghs 京公网安备 11010802042870号
Book学术文献互助
Book学术文献互助群
群 号：481959085
Book学术官方微信