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2020 IEEE 5th International Conference on Integrated Circuits and Microsystems (ICICM) - 最新文献
Radiation-hardened Test Design for Aerospace SoC
Pub Date : 2020-10-23 DOI: 10.1109/ICICM50929.2020.9292308 Dan‐dan Cheng, Dan Qi, Mo ChenIdentification of Series Fault Arc of Low-voltage Power Cables in Substation Based on Wavelet Transform
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Pub Date : 2020-10-23 DOI: 10.1109/ICICM50929.2020.9292192 Dai Pan, Cheng Feixue, Long Jun-hua, Lu Shulong
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