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[1989] Proceedings of the 1st European Test Conference - 最新文献
Fully-integrated dynamic fault imaging system for failure analysis and performance enhancement of VLSI
Pub Date : 1989-04-12 DOI: 10.1109/ETC.1989.36241 J.-L. Pelissier, X. FlinoisPseudoexhaustive test techniques: a new algorithm to partition combinational networks
Pub Date : 1989-04-12 DOI: 10.1109/ETC.1989.36268 J. Amazonas, M. StrumHigh-level test generation for sequential circuits
Pub Date : 1989-04-12 DOI: 10.1109/ETC.1989.36258 T. Winter
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