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Proceedings 6th IEEE International On-Line Testing Workshop (Cat. No.PR00646) - 最新文献
Faster time-to-market, lower cost of development and test for standard analog IC
Pub Date : 2000-07-03 DOI: 10.1109/OLT.2000.856630 P. MigliavaccaEvaluating the effectiveness of a software fault-tolerance technique on RISC- and CISC-based architectures
Pub Date : 2000-07-03 DOI: 10.1109/OLT.2000.856606 M. Rebaudengo, M. Reorda, M. Violante, P. Cheynet, B. Nicolescu, R. VelazcoNew self-checking circuits by use of Berger-codes
Pub Date : 2000-07-03 DOI: 10.1109/OLT.2000.856626 A. Morosov, V. Saposhnikov, V. Saposhnikov, M. Gössel
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