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2019 IEEE 32nd International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) - 最新文献
In search of a hole inversion layer in $mathrm{Pd}/mathrm{MoO}_{x}/mathrm{Si}$ diodes through I- V characterization using dedicated ring-shaped test structures
Pub Date : 2019-06-06 DOI: 10.1109/ICMTS.2019.8730920 G. Gupta, Shivakumar D. Tharnmaiah, R. Hueting, L. NanverAnalysis of a failure mechanism occurring in SiGe HBTs under mixed-mode stress conditions
Pub Date : 2019-03-18 DOI: 10.1109/ICMTS.2019.8730951 Mathieu Jaoul, D. Ney, D. Céli, C. Maneux, T. ZimmerElectrical characterization of hot-wire assisted atomic layer deposited Tungsten films
Pub Date : 2019-03-18 DOI: 10.1109/ICMTS.2019.8730954 Kees van der Zouw, A. Aarnink, J. Schmitz, A. Kovalgin
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