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2001 IEEE International Integrated Reliability Workshop. Final Report (Cat. No.01TH8580) - 最新文献
Isothermal EM test development for Cu /oxide single damascene interconnect
Pub Date : 2001-10-15 DOI: 10.1109/IRWS.2001.993919 A. LeongElectromigration current limit of high speed SiGe bipolar transistors influenced by device self-heating
Pub Date : 2001-10-15 DOI: 10.1109/IRWS.2001.993922 K. Brelsford, J. Rieh, Ping-Chuan Wang, G. FreemanLatent reliability degradation of ultra-thin oxides after heavy ion and /spl gamma/-ray irradiation
Pub Date : 2001-10-15 DOI: 10.1109/IRWS.2001.993910 Bin Wang, J. Suehle, E. Vogel, J. Conley, C. Weintraub, A. Johnston, J. Bernstein
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