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High-k Materials in Multi-Gate FET Devices - 最新文献
Trap Charges in High-k and Stacked Dielectric
Pub Date : 2021-07-30 DOI: 10.1201/9781003121589-4 A. S. Lenka, P. SahuNovel Architecture in Gate-All-Around (GAA) MOSFET with High-k Dielectric for Biomolecule Detection
Pub Date : 2021-07-30 DOI: 10.1201/9781003121589-8 Krutideepa Bhol, B. Jena, U. Nanda, Shubham Tayal, Amit K. JainImpact of High-k Dielectric on the Gate-Induced Drain Leakage of Multi-Gate FETs
Pub Date : 2021-07-30 DOI: 10.1201/9781003121589-5 Varshini K. Amirtha, Shubham Sahay
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