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2015 IEEE Symposium on Electromagnetic Compatibility and Signal Integrity - 最新文献
Efficient multi-parametric uncertainty quantification methods for EMC/EMI applications
Pub Date : 2015-03-15 DOI: 10.1109/EMCSI.2015.7107715 Zixi Gu, Xingqi Zhang, N. Sood, C. SarrisOn-chip linear voltage regulator module (VRM) effect on power distribution network (PDN) noise and jitter at high-speed output buffer
Pub Date : 2015-03-15 DOI: 10.1109/EMCSI.2015.7107653 Heegon Kim, Sukjin Kim, Joungho Kim, Jingook Kim, C. Yoon, B. Achkir, J. FanReconstruction of currents from EMC near-field measurements by means of continuity equation constraints
Pub Date : 2015-03-15 DOI: 10.1109/EMCSI.2015.7107677 Martin Schmidt, M. Albach
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