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2009 14th IEEE European Test Symposium - 最新文献
A Two Phase Approach for Minimal Diagnostic Test Set Generation
Pub Date : 2009-05-25 DOI: 10.1109/ETS.2009.33 M. A. Shukoor, V. AgrawalA Voltage-Mode Testing Method to Detect IDDQ Defects in Digital Circuits
Pub Date : 2009-05-25 DOI: 10.1109/ETS.2009.34 J. Rius, Luis Elvira Villagra, M. MeijerPartial Scan Approach for Secret Information Protection
Pub Date : 2009-05-25 DOI: 10.1109/ETS.2009.15 M. Inoue, T. Yoneda, M. Hasegawa, H. Fujiwara
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