2020 IEEE 38th VLSI Test Symposium (VTS)

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2020 IEEE 38th VLSI Test Symposium (VTS) - 最新文献

Selective Checksum based On-line Error Correction for RRAM based Matrix Operations

Pub Date : 2020-04-01 DOI: 10.1109/VTS48691.2020.9107606 Abhishek Das, N. Touba

Ultra-Wideband Modulation Signal Measurement Using Local Sweep Digitizing Method

Pub Date : 2020-04-01 DOI: 10.1109/VTS48691.2020.9107610 Koji Asami, Keisuke Kusunoki, N. Shimizu, Yoshiyuki Aoki

VTS 2020 Steering and Program Committees

Pub Date : 2020-04-01 DOI: 10.1109/vts48691.2020.9107596
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