IEEE Automatic Testing Conference.The Systems Readiness Technology Conference. Automatic Testing in the Next Decade and the 21st Century. Conference Record.

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IEEE Automatic Testing Conference.The Systems Readiness Technology Conference. Automatic Testing in the Next Decade and the 21st Century. Conference Record. - 最新文献

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Pub Date : 1989-09-25 DOI: 10.1109/AUTEST.1989.81137 P. McCown, T. Conway, C. V. Conway

Pub Date : 1989-09-25 DOI: 10.1109/AUTEST.1989.81125 R. Wolfe

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