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Electron Technology Conference - 最新文献
Simulation of electrical characteristics of GaN vertical Schottky diodes
Pub Date : 2016-12-22 DOI: 10.1117/12.2260777 L. Łukasiak, J. Jasiński, A. JakubowskiMeasurement system for resistive metal oxide sensors matrix
Pub Date : 2016-12-22 DOI: 10.1117/12.2258737 Piotr Róg, A. Rydosz, Andrzej BrudnikElectron Technology: ELTE 2016
Pub Date : 2016-12-22 DOI: 10.1117/12.2270336 T. Pisarkiewicz, W. Kucewicz
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