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Proceedings of 1995 IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC'95) - 最新文献
Investigations of dose rate effects on CMOS submicronic technologies
Pub Date : 1995-07-19 DOI: 10.1109/REDW.1995.483403 T. Corbiere, J. L. VenturinSingle event effect proton and heavy ion test results in support of candidate NASA programs
Pub Date : 1995-07-19 DOI: 10.1109/REDW.1995.483259 K. Label, A. Moran, D. Hawkins, A. Sanders, C. Seidleck, H. Kim, J. Fomey, E. Stassinopoulos, P. Marshall, C. Dale, R. BarryRadiation effects in Micrel MIC4427 MOSFET drivers
Pub Date : 1995-07-19 DOI: 10.1109/REDW.1995.483376 M. Skipper, K. Atkins, G. Hopkinson, K. Label
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