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2006 68th ARFTG Conference: Microwave Measurement - 最新文献
Terminology for high-speed sampling-oscilloscope calibration
Pub Date : 2006-12-01 DOI: 10.1109/ARFTG.2006.8361647 Dylan F. Williams, T. Clement, P. Hale, A. DienstfreyA behavioral power amplifier model that includes the average power level
Pub Date : 2006-11-01 DOI: 10.1109/ARFTG.2006.8361650 D. Wisell, N. KeskitaloVerification of wafer-level calibration accuracy at cryogenic temperatures
Pub Date : 2006-11-01 DOI: 10.1109/ARFTG.2006.8361666 A. Rumiantsev, R. Doerner, P. Sakalas
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