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European Test Workshop 1999 (Cat. No.PR00390) - 最新文献
Partial set for flip-flops based on state requirement for non-scan BIST scheme
Pub Date : 1999-09-24 DOI: 10.1109/ETW.1999.804306 M. Flottes, C. Landrault, A. PetitqueuxOn avoiding undetectable faults during test generation
Pub Date : 1999-09-24 DOI: 10.1109/ETW.1999.804292 I. Pomeranz, S. ReddyOn calculating efficient LFSR seeds for built-in self test
Pub Date : 1999-09-24 DOI: 10.1109/ETW.1999.803819 C. Fagot, O. Gascuel, P. Girard, C. Landrault
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