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Proceedings of the 20th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) - 最新文献
Voltage dependence and AC life time of PMOS HCI
Pub Date : 2013-07-15 DOI: 10.1109/IPFA.2013.6599257 J. Jia, Patty Liu, Fengliang Xue, Jon Tien, Alex Cai, F. Dhaoui, P. Singaraju, F. Hawley, J. MccollumAnalysis of dynamic retention characteristics of NWL scheme in high density DRAM
Pub Date : 2013-07-15 DOI: 10.1109/IPFA.2013.6599242 Myungjae Lee, H. Kwon, Jonghyoung Lim, H. Hwang, Seongjin Jang, Y. RohFailure analysis for via with solder bubble
Pub Date : 2013-07-15 DOI: 10.1109/IPFA.2013.6599274 W. Yang, Luo Daojun
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