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2004 IEEE Workshop on Microelectronics and Electron Devices - 最新文献
A statistical model based ASIC skew selection method
Pub Date : 2004-09-27 DOI: 10.1109/WMED.2004.1297353 D.T. Wang, W. McnallComparing rapid thermal process and low-temperature furnace annealed poly test wafers by SIMS and FTIR
Pub Date : 2004-09-27 DOI: 10.1109/WMED.2004.1297368 Jingyan Zhang, J. Mathew, M. Canavan, W. MorinvillePattern alignment effects in through-wafer bulk micromachining of (100) silicon
Pub Date : 2004-09-27 DOI: 10.1109/WMED.2004.1297360 P. Reddy, J. Jessing
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