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2016 IEEE International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai (IMFEDK) - 最新文献
IoT device oriented security module using PUF
Pub Date : 2016-07-28 DOI: 10.1109/IMFEDK.2016.7521693 Y. Ikezaki, Y. Nozaki, M. YoshikawaEffect of metal electrode edge irregularities on breakdown voltages of AlGaN/GaN HEMTs
Pub Date : 2016-06-23 DOI: 10.1109/IMFEDK.2016.7521698 S. Makino, S. Ohi, J. Asubar, H. Tokuda, M. KuzuharaCharacteristic reliability of a hybrid-type temperature sensor using poly-Si thin-film transistors
Pub Date : 2016-06-23 DOI: 10.1109/IMFEDK.2016.7521670 Toshimasa Hori, J. Taya, Hisashi Hayashi, T. Matsuda, M. Kimura
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