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16th Asian Test Symposium (ATS 2007) - 最新文献
Response Inversion Scan Cell (RISC): A Peak Capture Power Reduction Technique
Pub Date : 2007-10-08 DOI: 10.1109/ATS.2007.74 Bo Chen, W. Kao, B. Bai, Shyue-Tsong Shen, J. LiA 2-ps Resolution Wide Range BIST Circuit for Jitter Measurement
Pub Date : 2007-10-08 DOI: 10.1109/ATS.2007.46 N. Cheng, Yu Lee, Ji-Jan ChenBuilt-In Speed Grading with a Process-Tolerant ADPLL
Pub Date : 2007-10-08 DOI: 10.1109/ATS.2007.38 H. Hsu, Chun-Chieh Tu, Shi-Yu Huang
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