查看最新文献
订阅
分享
455发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
1998 5th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology. Proceedings (Cat. No.98EX105) - 最新文献
Silicon nano-crystals based MOS memory and effects of traps on charge storage characteristics
Pub Date : 1998-12-01 DOI: 10.1109/ICSICT.1998.786434 Y. Shi, S. Gu, X. L. Yuan, Y.D. Zheng, K. Saito, H. Ishikuro, T. HiramotoSampling methodology for SEM-based defect classification: risk, cost, and benefit analysis
Pub Date : 1998-10-21 DOI: 10.1109/ICSICT.1998.785885 R. Akella, Chih-Hung Lin, Prasanna R. ChitturiDesign and fabrication for inertial micro sensors
Pub Date : 1998-10-21 DOI: 10.1109/ICSICT.1998.786512 Guoying Wu, Zhixiong Xiao, Zhihong Li, Y. Hao
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
