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2006 13th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits - 最新文献
Apply Difference Analysis to Nano-Probing Technique for Reasoning Erratic Defect out in Integrated Circuits
Pub Date : 2006-07-03 DOI: 10.1109/IPFA.2006.250984 G. Shen, K. ChuangSimulation Study of Hot-electron Reliability in strained-Si n-MOSFETs
Pub Date : 2006-07-03 DOI: 10.1109/IPFA.2006.251016 C. Maiti, S. Mahato, A. SahaEffects of Annealing and Temperature on SGOI Fabrication Using Ge Condensation
Pub Date : 2006-07-03 DOI: 10.1109/IPFA.2006.251018 S. Balakumar, C.S. Ongu, C. Tung, A. Trigg, M. Li, R. Kumar, G. Lo, N. Balasubramanian, Y. Yeo, D. Kwong
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