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80th ARFTG Microwave Measurement Conference - 最新文献
Complete power sensor calibration using a VNA
Pub Date : 2012-11-01 DOI: 10.1109/ARFTG.2012.6422420 Ken WongA procedure for measurement of s-parameters and eye-diagram of backplane using two-port VNA
Pub Date : 2012-11-01 DOI: 10.1109/ARFTG.2012.6422421 K. Hoffmann, M. RandusFolded planar Marchand balun with improved isolation for radio frequency Automated Test Equipment applications
Pub Date : 2012-11-01 DOI: 10.1109/ARFTG.2012.6422426 C. Montiel
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