查看最新文献
订阅
分享
800发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
2015 IEEE 24th Asian Test Symposium (ATS) - 最新文献
An Integrated Approach for Improving Compression and Diagnostic Properties of Test Sets
Pub Date : 2015-11-22 DOI: 10.1109/ATS.2015.33 Srinivasa Shashank Nuthakki, S. ChattopadhyayOn Improving Transition Test Set Quality to Detect CMOS Transistor Stuck-Open Faults
Pub Date : 2015-11-22 DOI: 10.1109/ATS.2015.24 X. Lin, Wu-Tung Cheng, J. RajskiA Lightweight Timing Channel Protection for Shared Memory Controllers
Pub Date : 2015-11-22 DOI: 10.1109/ATS.2015.17 Guopei Liu, Ying Wang, Sen Li, Huawei Li, Xiaowei Li
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
