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Proceedings IEEE European Test Workshop - 最新文献
Bridging the testing speed gap: design for delay testability
Pub Date : 2000-05-23 DOI: 10.1109/ETW.2000.873771 H. Speek, H. Kerkhoff, M. Sachdev, M. ShashaaniA system level boundary scan controller board for VME applications [to CERN experiments]
Pub Date : 2000-05-23 DOI: 10.1109/ETW.2000.873793 N. Cardoso, C. B. Almeida, José Carlos da SilvaFast and low-area TPGs based on T-type flip-flops can be easily integrated to the scan path
Pub Date : 2000-05-23 DOI: 10.1109/ETW.2000.873794 T. Garbolino, A. Hlawiczka, A. Kristof
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