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Atomic Force Microscopy - Basic Principles to Advanced Applications [Working Title] - 最新文献
Application of Atomic Force Microscopy in Organic and Perovskite Photovoltaics
Pub Date : 2021-06-10 DOI: 10.5772/INTECHOPEN.98478 C. PathakDiffraction Grating Groove Metrology Using AFM & STM
Pub Date : 2021-04-26 DOI: 10.5772/INTECHOPEN.97257 L. GorayNanomaterials Characterisation through Magnetic Field Dependent AFM
Pub Date : 2021-04-15 DOI: 10.5772/INTECHOPEN.97249 M. Coïsson, G. Barrera, F. Celegato, P. Tiberto
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