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ESSDERC '95: Proceedings of the 25th European Solid State Device Research Conference - 最新文献
Soft Breakdown of Ultra-Thin Gate Oxide Layers
Pub Date : 1995-09-01 DOI: 10.1557/PROC-567-307 M. Depas, M. Heyns, P. MertensAccurate Modeling of Double Barrier Resonant Tunneling Diodes
Pub Date : 1995-09-01 DOI: 10.1007/978-94-009-1778-1_19 T. van de Roer, M. Hendriks, W. Magnus, M. Henini, H. Heyker, M. Kwaspen, W. G. van der Vleuten, J. Caro, P. LukeyMagnetic Pattern Recognition Sensor Arrays using CCD Readout
Pub Date : 1995-09-01 DOI: 10.1139/P96-848 O. Nixon, A. Nathan
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