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2016 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) - 最新文献
Detecting intermittent resistive faults in digital CMOS circuits
Pub Date : 2016-10-27 DOI: 10.1109/DFT.2016.7684075 Hassan Ebrahimi, Alireza Rohani, H. KerkhoffBTI aware thermal management for reliable DVFS designs
Pub Date : 2016-09-19 DOI: 10.1109/DFT.2016.7684059 H. Chahal, V. Tenentes, Daniele Rossi, B. Al-HashimiEfficient utilization of hierarchical iJTAG networks for interrupts management
Pub Date : 2016-09-19 DOI: 10.1109/DFT.2016.7684077 Ahmed M. Y. Ibrahim, H. Kerkhoff
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