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Proceedings 17th IEEE VLSI Test Symposium (Cat. No.PR00146) - 最新文献
A systematic DFT procedure for library cells
Pub Date : 1999-04-26 DOI: 10.1109/VTEST.1999.766704 Jingjing Xu, R. Kundu, F. FergusonEvaluating the fault tolerance capabilities of embedded systems via BDM
Pub Date : 1999-04-26 DOI: 10.1109/VTEST.1999.766703 M. Rebaudengo, M. ReordaA new bare die test methodology
Pub Date : 1999-04-26 DOI: 10.1109/VTEST.1999.766678 Zao Yang, K. Cheng, K. Tai
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