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2018 International Semiconductor Conference (CAS) - 最新文献
MOS Dosimeter Based on Ge Nanocrystals in Hfo2
Pub Date : 2018-10-01 DOI: 10.1109/SMICND.2018.8539769 C. Palade, A. Slav, A. Lepadatu, I. Stavarache, I. Dascalescu, O. Cojocaru, T. Stoica, M. Ciurea, S. LazanuPower Supply Duty Cycling for Highly Constrained IoT Devices
Pub Date : 2018-10-01 DOI: 10.1109/SMICND.2018.8539832 A. Monti, E. Alata, D. Dragomirescu, A. TakacsSubstrate Effect on the Morphology and Optical Properties of ZnO Nanorods Layers Grown by Microwave-Assisted Hydrothermal Method
Pub Date : 2018-10-01 DOI: 10.1109/SMICND.2018.8539811 A. Filip, V. Muşat, N. Țigău, A. Cantaragiu, C. Romanițan, M. Purica
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