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ISTFA 2020: Papers Accepted for the Planned 46th International Symposium for Testing and Failure Analysis - 最新文献
SRAM Bitcell Defect Identification Methodology Using Electrical Failure Analysis Data
Pub Date : 2020-12-01 DOI: 10.31399/ASM.CP.ISTFA2020P0322 Hyungtae Kim, Geonho Kim, Li Yunrong, Ji-hyeok Jeong, Youngdae KimBack Side Illumination Image Sensor Characterization by Backside Circuit Editing
Pub Date : 2020-12-01 DOI: 10.31399/ASM.CP.ISTFA2020P0129 Jian Yu, Jin Xu, Niel Sanico
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