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14th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems - 最新文献
Statistical analysis of 6T SRAM data retention voltage under process variation
Pub Date : 2011-04-13 DOI: 10.1109/DDECS.2011.5783112 E. Vatajelu, J. FiguerasBehavioral model of TRNG based on oscillator rings implemented in FPGA
Pub Date : 2011-04-13 DOI: 10.1109/DDECS.2011.5783072 Knut Wold, Slobodan V. PetrovicCommunication modelling and synthesis for NoC-based systems with real-time constraints
Pub Date : 2011-04-13 DOI: 10.1109/DDECS.2011.5783086 Mihkel Tagel, P. Ellervee, T. Hollstein, G. Jervan
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