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2018 IEEE International Test Conference (ITC) - 最新文献
Hardware IP Trust Validation: Learn (the Untrustworthy), and Verify
Pub Date : 2018-10-01 DOI: 10.1109/TEST.2018.8624727 Tamzidul Hoque, Jonathan Cruz, Prabuddha Chakraborty, S. BhuniaTesting Resistive Memories: Where are We and What is Missing?
Pub Date : 2018-10-01 DOI: 10.1109/TEST.2018.8624895 M. Fieback, M. Taouil, S. HamdiouiSafe AI for CPS (Invited Paper)
Pub Date : 2018-10-01 DOI: 10.1109/TEST.2018.8624774 Nathan Fulton, André Platzer
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