查看最新文献
订阅
分享
2000发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
2009 IEEE Circuits and Systems International Conference on Testing and Diagnosis - 最新文献
BIST Approach for testing Embedded Memory Blocks in System-on-Chips
Pub Date : 2009-05-26 DOI: 10.1109/CAS-ICTD.2009.4960791 Zhiquan Zhang, Zhiping Wen, Lei ChenA Fast and Practical Algorithm for Absolute Dominators Searching
Pub Date : 2009-04-28 DOI: 10.1007/978-1-4471-4793-0_23 Xiaojing Hu, Zhengxiang Song, Jianhua Wang, Yingsan Geng, Wang ShenFin Actuator System Circuit Design and Simulation
Pub Date : 2009-04-28 DOI: 10.1109/CAS-ICTD.2009.4960826 Jin Gao, Jia-dong Xu, W. Gao, Xuewei Liu
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
