Review of Scientific Instruments

SCI期刊
Review of Scientific Instruments
中文名称:
科学仪器回顾
期刊缩写:
Rev. Sci. Instrum.
影响因子:
1.3
ISSN:
print: 0034-6748
on-line: 1089-7623
研究领域:
工程技术-物理:应用
h-index:
145
自引率:
12.50%
Gold OA文章占比:
24.62%
原创研究文献占比:
98.43%
SCI收录类型:
Science Citation Index Expanded (SCIE) || Scopus (CiteScore)
期刊官网:
期刊介绍英文:
Review of Scientific Instruments, is committed to the publication of advances in scientific instruments, apparatuses, and techniques. RSI seeks to meet the needs of engineers and scientists in physics, chemistry, and the life sciences.
CiteScore:
CiteScoreSJRSNIPCiteScore排名
3.00.4340.745
学科
排名
百分位
大类:Physics and Astronomy
小类:Instrumentation
81 / 141
42%
发文信息
中科院SCI期刊分区
大类 小类 TOP期刊 综述期刊
4区 工程技术
4区 仪器仪表 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
4区 物理:应用 PHYSICS, APPLIED
WOS期刊分区
学科分类
Q3INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
Q4PHYSICS, APPLIED
历年影响因子
2015年1.3360
2016年1.5150
2017年1.4280
2018年1.5870
2019年1.4800
2020年1.5230
2021年1.8430
2022年1.6000
2023年1.3000
历年发表
2012年1445
2013年1038
2014年1611
2015年998
2016年1638
2017年968
2018年1362
2019年1060
2020年1067
2021年1172
2022年758
投稿信息
出版周期:
Monthly
出版语言:
English
出版国家(地区):
UNITED STATES
接受率:
91%
审稿时长:
2.6 months
论文处理费:
Free
出版商:
American Institute of Physics
编辑部地址:
AMER INST PHYSICS, CIRCULATION & FULFILLMENT DIV, 2 HUNTINGTON QUADRANGLE, STE 1 N O 1, MELVILLE, USA, NY, 11747-4501

Review of Scientific Instruments - 最新文献

Characterization of the response of radiochromic film to quasi-monoenergetic x rays through a cross-calibration with image plates

Pub Date : 2024-09-20 DOI: 10.1063/5.0219340 B. I. Buschmann, M. Cufari, N. Vanderloo, J. Vargas, B. C. Foo, A. DeVault, S. G. Dannhoff, T. E. Evans, T. M. Johnson, J. H. Kunimune, Y. Lawrence, J. A. Pearcy, B. L. Reichelt, C. W. Wink, L. Russell, M. Gatu Johnson, R. D. Petrasso, J. A. Frenje

Exploring photoionization of gas-phase free radicals with a widely tunable VUV laser at moderate spectral resolution

Pub Date : 2024-09-19 DOI: 10.1063/5.0217178 H. L. Le, N. L. Chen, M. Jiang, C. Le Bris, C. Charrière, S. Boyé-Péronne, J.-C. Loison, U. Jacovella, B. Gans

A stretching apparatus with broad strain rate and temperature ranges for in-situ x-ray scattering measurements of polymers

Pub Date : 2024-09-19 DOI: 10.1063/5.0201598 Yimin Lu, Erjie Yang, Jianhe Zhu, Shenghui Liu, Kunpeng Cui, Hang Guo, Liangbin Li
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