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Microelectron. J. - 最新文献
Simulation study of lateral CEFT logic performance at 3 nm Node
Pub Date : 2023-07-01 DOI: 10.2139/ssrn.4377529 Guanguo Wen, Qiang Long, Xinlong Shi, Ying Wang, Feng Liu, Huiyong Hu, Jincheng ZhangFiltering SIW phase shifter based on through quartz vias technology
Pub Date : 2023-06-01 DOI: 10.2139/ssrn.4368152 Nuo Liu, Xiaoxian Liu, Chenhui FanEffect of bias conditions on transient anode current for quasi-double-sided silicon drift detector with high energy resolution
Pub Date : 2023-06-01 DOI: 10.2139/ssrn.4359534 Longjie Wang, Wei Luo, Mingpeng Zhang, Jia Rui, Xing Li, X. Tian, Bolong Wang, Shuai Jiang, Jiawang Cheng, Xiaoping Ouyang
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