期刊缩写:
MICROSCOPY-JPN
影响因子:
1.8
ISSN:
print: 0022-0744
研究领域:
工程技术-显微镜技术
创刊年份:
1953年
自引率:
11.10%
Gold OA文章占比:
19.07%
原创研究文献占比:
94.81%
SCI收录类型:
Science Citation Index Expanded (SCIE)
期刊介绍英文:
Microscopy, previously Journal of Electron Microscopy, promotes research combined with any type of microscopy techniques, applied in life and material sciences. Microscopy is the official journal of the Japanese Society of Microscopy.
发文信息
中科院SCI期刊分区
大类 小类 TOP期刊 综述期刊
4区 工程技术
4区 显微镜技术 MICROSCOPY
WOS期刊分区
历年影响因子
2019年1.3940
2020年1.5710
2021年2.0720
2022年1.8000
历年发表
2012年65
2013年9
2014年0
2015年9
2016年1
2017年31
2018年2
2019年0
2020年0
2021年0
2022年0
投稿信息
出版周期:
Bimonthly
出版语言:
English
出版国家(地区):
JAPAN
审稿时长:
>12 weeks
出版商:
OXFORD UNIV PRESS
编辑部地址:
OXFORD UNIV PRESS, GREAT CLARENDON ST, OXFORD, ENGLAND, OX2 6DP

Microscopy - 最新文献

Study on the dissolution of β-precipitates in the Zr–1Nb alloy under the influence of Ne ion irradiation

Pub Date : 2021-10-01 DOI: 10.1093/jmicro/dfab017 Lokesh Goel;Anamul H Mir;N Naveen Kumar;Parlapalli V Satyam;Jonathan A Hinks;Stephen E Donelly;Raghvendra Tewari

Operando observation of magnetism in HDD writing heads by spin-polarized scanning electron microscopy

Pub Date : 2021-10-01 DOI: 10.1093/jmicro/dfab011 Teruo Kohashi;Kumi Motai;Hideo Matsuyama;Yohji Maruyama

Deep convolutional neural network image processing method providing improved signal-to-noise ratios in electron holography

Pub Date : 2021-10-01 DOI: 10.1093/jmicro/dfab012 Yusuke Asari;Shohei Terada;Toshiaki Tanigaki;Yoshio Takahashi;Hiroyuki Shinada;Hiroshi Nakajima;Kiyoshi Kanie;Yasukazu Murakami
查看全部
免责声明:
本页显示期刊或杂志信息,仅供参考学习,不是任何期刊杂志官网,不涉及出版事务,特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题,请联系我们,邮箱:info@booksci.cn,我们会认真核实处理。
copy
已复制链接
快去分享给好友吧!
我知道了
右上角分享
点击右上角分享
联系我们:info@booksci.cn Book学术提供免费学术资源搜索服务,方便国内外学者检索中英文文献。致力于提供最便捷和优质的服务体验。 Copyright © 2023 布克学术 All rights reserved.
京ICP备2023020795号-1
ghs 京公网安备 11010802042870号
Book学术文献互助
Book学术文献互助群
群 号:481959085
Book学术官方微信