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Proceedings of IEEE 3rd Asian Test Symposium (ATS) - 最新文献
Design of pseudo-random patterns with low linear dependence and equi-distribution
Pub Date : 1994-11-15 DOI: 10.1109/ATS.1994.367219 S. Matsufuji, S. Tadaki, T. YamanakaEvaluations of various TPG circuits for use in two-pattern testing
Pub Date : 1994-11-15 DOI: 10.1109/ATS.1994.367224 K. Furuya, S. Yamazaki, M. SatoEfficiency improvements for multiple fault diagnosis of combinational circuits
Pub Date : 1994-11-15 DOI: 10.1109/ATS.1994.367249 N. Yanagida, H. Takahashi, Y. Takamatsu
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