Journal of Synchrotron Radiation

Journal of Synchrotron Radiation
期刊缩写:
J. Synchrotron Radiat.
影响因子:
2.4
ISSN:
print: 0909-0495
on-line: 1600-5775
研究领域:
物理-光学
创刊年份:
1994年
h-index:
89
自引率:
12.00%
Gold OA文章占比:
78.86%
原创研究文献占比:
100.00%
SCI收录类型:
Science Citation Index Expanded (SCIE) || Scopus (CiteScore)
期刊介绍英文:
Synchrotron radiation research is rapidly expanding with many new sources of radiation being created globally. Synchrotron radiation plays a leading role in pure science and in emerging technologies. The Journal of Synchrotron Radiation provides comprehensive coverage of the entire field of synchrotron radiation and free-electron laser research including instrumentation, theory, computing and scientific applications in areas such as biology, nanoscience and materials science. Rapid publication ensures an up-to-date information resource for scientists and engineers in the field.
CiteScore:
CiteScoreSJRSNIPCiteScore排名
5.100.9821.196
学科
分区
排名
百分位
大类:Physics and Astronomy
小类:Radiation
Q1
11 / 53
79%
大类:Physics and Astronomy
小类:Instrumentation
Q2
36 / 136
74%
大类:Physics and Astronomy
小类:Nuclear and High Energy Physics
Q2
23 / 81
72%
发文信息
中科院SCI期刊分区
大类 小类 TOP期刊 综述期刊
3区 物理与天体物理
3区 仪器仪表 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
3区 光学 OPTICS
3区 物理:应用 PHYSICS, APPLIED
WOS期刊分区
学科分类
Q2INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
Q2OPTICS
Q3PHYSICS, APPLIED
历年影响因子
2019年2.2510
2020年2.6160
2021年2.5570
2022年2.5000
2023年2.4000
历年发表
2012年164
2013年173
2014年149
2015年211
2016年200
2017年157
2018年223
2019年253
2020年214
2021年218
2022年289
投稿信息
出版周期:
Bimonthly
出版语言:
English
出版国家(地区):
DENMARK
审稿时长:
4-8 weeks
出版商:
International Union of Crystallography
编辑部地址:
WILEY-BLACKWELL PUBLISHING, INC, COMMERCE PLACE, 350 MAIN ST, MALDEN, USA, MA, 02148

Journal of Synchrotron Radiation - 最新文献

Operando double-edge high-resolution X-ray absorption spectroscopy study of BiVO4 photoanodes

Pub Date : 2024-04-15 DOI: 10.1107/s1600577524002741 Piccioni, A., Kopula Kesavan, J., Amidani, L., Mazzaro, R., Berardi, S., Caramori, S., Pasquini, L., Boscherini, F.

Development of dual-beamline photoelectron momentum microscopy for valence orbital analysis

Pub Date : 2024-04-15 DOI: 10.1107/s1600577524002406 Hagiwara, K., Nakamura, E., Makita, S., Suga, S., Tanaka, S.-, Kera, S., Matsui, F.

Measuring magnetic hysteresis curves with polarized soft X-ray resonant reflectivity

Pub Date : 2024-04-10 DOI: 10.1107/s160057752400119x Fan, R., Kiranjot,, Aboljadayel, R.O.M., Alsaeed, K., Bencok, P., Burn, D.M., Hindmarch, A.T., Steadman, P.
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