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2021 IEEE 20th Topical Meeting on Silicon Monolithic Integrated Circuits in RF Systems (SiRF) - 最新文献
Experimental Extraction of Thermal Noise γ Factors in a 14-nm RF FinFET technology
Pub Date : 2021-01-17 DOI: 10.1109/SiRF51851.2021.9383331 Xuewei Ding, G. Niu, Anni Zhang, W. Cai, K. ImuraMMIC GaAs X-Band Isolator with Enhanced Power Transmission Response
Pub Date : 2021-01-17 DOI: 10.1109/SiRF51851.2021.9383408 Andrea Ashley, G. Lasser, Z. Popovic, A. Madanayake, D. Psychogiou
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