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Proceedings of 1994 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IRWS) - 最新文献
Case study: MOSFET instability due to charging of remnant stringers from a disposable polysilicon spacer process
Pub Date : 1994-10-16 DOI: 10.1109/IRWS.1994.515845 J. Miller, H.L. Hegedus, V. KaushikImproved electromigration test techniques of layered metal structures at wafer level
Pub Date : 1994-10-16 DOI: 10.1109/IRWS.1994.515849 H. KattoCircuit-level electrothermal simulation techniques for designing output protection devices
Pub Date : 1994-10-16 DOI: 10.1109/IRWS.1994.515831 S. Ramaswamy, E. Rosenbaum, S. Kang
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