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2022 IEEE International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai (IMFEDK) - 最新文献
Modeling of Super Steep Subthreshold Slope Device by using Neural Network
Pub Date : 2022-11-28 DOI: 10.1109/IMFEDK56875.2022.9975367 K. Nakata, Takayuki Mori, J. IdaEvaluation of Soft Error Tolerance on Flip-Flops Restoring from a Single Node Upset by C-elements
Pub Date : 2022-11-28 DOI: 10.1109/IMFEDK56875.2022.9975373 T. Ito, Ryuichi Nakajima, J. Furuta, Kazutoshi KobayashiDual-Band Single-Output WLAN Directional Coupler in a SOI CMOS Process
Pub Date : 2022-11-28 DOI: 10.1109/IMFEDK56875.2022.9975435 Ryangsu Kim, Kenta Seki, Kazuhito Osawa
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