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2011 Proceedings of the European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC) - 最新文献
Atomic layer deposition of 25-nm-thin sidewall spacer for enhancement of FinFET performance
Pub Date : 2011-10-13 DOI: 10.1109/ESSDERC.2011.6044229 K. Endo, Y. Ishikawa, T. Matsukawa, Yongxum Liu, S. Oruchi, K. Sakamoto, J. Tsukada, H. Yamauchi, M. MasaharaLow-noise single Photon Avalanche Diodes in 0.15 μm CMOS technology
Pub Date : 2011-10-13 DOI: 10.1109/ESSDERC.2011.6044205 L. Pancheri, D. StoppaPredictive modeling of parasitic substrate currents in high-voltage smart power IC's
Pub Date : 2011-10-13 DOI: 10.1109/ESSDERC.2011.6044208 F. L. Conte, J. Sallese, M. Kayal
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